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        1. 韓國XRF-2000X射鍍層測厚儀規格

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          點擊量: 99630 來源: 上海精誠興儀器儀表有限公司

          韓國Micor Pioneer XRF-2000 X射線測厚儀結構功能

           

          器功能 : 測量電鍍層厚度

          系統結構 :

          箱,用分析電腦,液晶顯示屏,色打印

          尺寸

          610 x 670 x 600 mm(訂制加高型主機箱高度超過600mm)

          箱重 : 約75 公斤

          配件重量 : 約 35 公斤

          樣品臺承重:5KG

          以滑鼠移方式,驅動 XYZ 三,步進馬達

          XYZ 片臺移動尺寸

          200 x 150 x 100 mm

          準直一個可選0.1, 0.2, 0.3, 0.4, 0.05*0.4mm

          件包括 視察軟件,

          系統軟件包括,測量,統計 

          系統功能

          測單層,雙層或多層或合金層電鍍厚度

          標準規格

          自動雷射對焦,XYZ全自XYZ片臺,自動調整檔案功能,電鍍藥液測量.元素配.

          主機箱:

          輸入電壓力:AC220V± 10% 50/60HZ

          溝通方法:RS-232C

          溫度控制:前置放大及機箱溫度控制

          對焦:雷射對焦

          安全裝置:如測量中機箱門打開,X射線0.5秒內自動關閉

          表面泄漏:少于1usv

          多通道分析

          通道數量:1024ch

          脈沖處理:微電腦高速處理器

          X射線源

          X射線管:油冷

          高壓:0-50KV(程控)

          管電流0-1mA(程控)

          目標杷:W靶

          校正及應用:單鍍層,雙鍍層,合金鍍層,標準樣品再校正

          2D,3D隨機位置測量

          2D:均距表面測量

          3D:表面排列處理測量

          隨機位置:任意設定測量點

          檢測器:正比計數器

          檢測器濾片:CO或Ni(選項)

          X-Y-Z三軸樣品臺

          操作模式:高速精密馬達,可控制加減速度

          2D,3D隨機定位,鼠標定定,樣品臺視窗控制,程控定位

          機箱門打開關閉Y軸自動感應

          統計功能:打印報告可顯示*大/*小值,位移,平均值,標準差,測量位置圖片顯示及Bar圖表等

          多種測量報表模式可選(可插入公司標志及客戶名稱)


          定性分析:

          原素頻譜顯示,ROI距離定性分析,標簽圖案顯示

          指標顯示:顯示原素及測量數值,顯示ROI彩**

          放大功能:局部放大,平均功能:柔和顯法頻譜

          視窗大小:無級別式視窗大小.

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